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簡(jiǎn)要描述:chroma 7935 晶圓檢測(cè)系統(tǒng) 主要特色:大可檢測(cè)8“ 晶圓 (檢測(cè)區(qū)域達(dá)10“ 范圍 )可因應(yīng)不同產(chǎn)業(yè)的晶粒更換或新增檢測(cè)項(xiàng)目上片后晶圓對(duì)位機(jī)制自動(dòng)尋邊功能可適用于不同形狀之晶圓瑕疵規(guī)格編輯器可讓使用者自行編輯檢測(cè)規(guī)格影像辨識(shí)成功率高達(dá) 98%可結(jié)合上游測(cè)試機(jī)晶粒資料,合并后上傳至下一道制程設(shè)備提供檢測(cè)報(bào)表編輯器,使用者可自行選擇適用資料并進(jìn)行分析適合LED、雷射二極體及影像感測(cè)器等產(chǎn)
產(chǎn)品分類
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品牌 | Chroma/致茂 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
chroma 7935 晶圓檢測(cè)系統(tǒng)
主要特色:大可檢測(cè)8" 晶圓 (檢測(cè)區(qū)域達(dá)10" 范圍 )可因應(yīng)不同產(chǎn)業(yè)的晶粒更換或新增檢測(cè)項(xiàng)目上片后晶圓對(duì)位機(jī)制自動(dòng)尋邊功能可適用于不同形狀之晶圓瑕疵規(guī)格編輯器可讓使用者自行編輯檢測(cè)規(guī)格影像辨識(shí)成功率高達(dá) 98%可結(jié)合上游測(cè)試機(jī)晶粒資料,合并后上傳至下一道制程設(shè)備提供檢測(cè)報(bào)表編輯器,使用者可自行選擇適用資料并進(jìn)行分析適合LED、雷射二極體及影像感測(cè)器等產(chǎn)業(yè) ?
Chroma 7935晶圓檢測(cè)機(jī)為切割后自動(dòng)化晶粒檢測(cè)機(jī),使用良好的打光技術(shù),可以清楚的辨識(shí)晶粒的外觀瑕疵。結(jié)合不同的光源角度、亮度及取像模式,使得 7935可以適用于LED、雷射二極體及影像感測(cè)器等產(chǎn)業(yè)。由于使用高速相機(jī)以及自行開(kāi)發(fā)之檢測(cè)演算法,7935可以針對(duì)特定瑕疵項(xiàng)目在2 分鐘內(nèi)檢測(cè)完2"晶圓,換算為單顆處理時(shí)間為15 msec。7935同時(shí)也提供了自動(dòng) 對(duì)焦與翹曲補(bǔ)償功能,以克服晶圓薄膜的翹曲與載盤(pán)的水平問(wèn)題。7935可配置不 同倍率之物鏡,使用者可依晶?;蜩Υ贸叽邕x擇適當(dāng)?shù)臋z測(cè)倍率。系統(tǒng)搭配的 小解析度為0.35um,一般來(lái)說(shuō),可以檢測(cè)1um左右的瑕疵尺寸。系統(tǒng)功能 在擴(kuò)膜之后,晶?;蚓A可能會(huì)產(chǎn)生不規(guī)則的排列,7935也提供了搜尋及排列功 能以轉(zhuǎn)正晶圓。此外,7935擁有人性化的使用介面可降低學(xué)習(xí)曲線,所有的必要 資訊,如晶圓分布,瑕疵區(qū)域,檢測(cè)參數(shù)及結(jié)果,均可清楚地透過(guò)UI呈現(xiàn)。瑕疵資料分析 所有的檢測(cè)結(jié)果均會(huì)被記錄下來(lái),而不僅只是良品/不良品的結(jié)果。這有助于找 出一組佳參數(shù),達(dá)到漏判與誤判的平衡點(diǎn),瑕疵原始資料亦有幫助于分析瑕疵 產(chǎn)生之趨勢(shì),并回饋給制程人員進(jìn)行改善。綜合上述說(shuō)明,Chroma 7935是晶圓檢測(cè)制程考量成本與效能的佳選擇。應(yīng)用范圍應(yīng)用范圍7935 晶圓檢測(cè)系統(tǒng)
chroma 7935 晶圓檢測(cè)系統(tǒng)
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