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簡要描述:吉時(shí)利 keithley 4200-SCS 分析系統(tǒng) 主要特點(diǎn)及優(yōu)點(diǎn)直觀的、點(diǎn)擊式Windows?操作環(huán)境*的遠(yuǎn)端前置放大器,將SMU的分辨率擴(kuò)展至0.1fA新的脈沖和脈沖I-V能力用于良好半導(dǎo)體測試新的示波器卡提供集成的示波器和脈沖測量功能內(nèi)置PC提供快速的測試設(shè)置、強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析、制圖與打印、以及測試結(jié)果的大容量存儲*的瀏覽器風(fēng)格的軟件界面,根據(jù)器件的類型來安排測試,可以執(zhí)行多項(xiàng)測試并提供測試
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品牌 | Keithley/美國吉時(shí)利 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
主要特點(diǎn)及優(yōu)點(diǎn)直觀的、點(diǎn)擊式Windows?操作環(huán)境*的遠(yuǎn)端前置放大器,將SMU的分辨率擴(kuò)展至0.1fA新的脈沖和脈沖I-V能力用于良好半導(dǎo)體測試新的示波器卡提供集成的示波器和脈沖測量功能內(nèi)置PC提供快速的測試設(shè)置、強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析、制圖與打印、以及測試結(jié)果的大容量存儲*的瀏覽器風(fēng)格的軟件界面,根據(jù)器件的類型來安排測試,可以執(zhí)行多項(xiàng)測試并提供測試序列與循環(huán)控制功能內(nèi)置stress/measure、looping和數(shù)據(jù)分析用于點(diǎn)擊式可靠性測試,包括五個符合JEDEC的范例測試
支持多種LCR表、吉時(shí)利開關(guān)矩陣配置與吉時(shí)利3400系列和安捷倫81110脈沖發(fā)生器等多種外圍設(shè)備包括驅(qū)動軟件,支持Cascade Microtech Summit12K 系列、 Karl Suss PA-200和PA-300、micromanipulator 的8860 自動和手動探針臺良好半導(dǎo)體支持包括吉時(shí)利提供的IC-CAP器件建模包驅(qū)動程序并支持Cadence BSIM ProPlus/Virtuoso 和Silvaco UTMOST器件建模工具
容易使用的4200-SCS型半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)用于實(shí)驗(yàn)室級的器件直流參數(shù)測試、實(shí)時(shí)繪圖與分析,具有高精度和亞f*的分辨率。它提供了良好的系統(tǒng)集成能力,包括完整的嵌入式PC機(jī),Windows NT操作系統(tǒng)與大容量存儲器。其自動記錄、點(diǎn)擊式接口加速并簡化了獲取數(shù)據(jù)的過程,這樣用戶可以更快地開始分析測試結(jié)果。更多特性使stress-measure能力適合廣泛的可靠性測試。
相關(guān)應(yīng)用半導(dǎo)體器件 片上參數(shù)測試 晶圓級可靠性 封裝器件特性分析 C-V/I-V 特性分析,需選件4200-590高頻C-V分析器 高K柵電荷俘獲受自加熱效應(yīng)影響的器件和材料的等溫測試Charge pumping用于MOSFET器件的界面態(tài)密度分析電阻性的或電容性的MEM驅(qū)動器特性分析 光電子器件
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